Auf der SEMICON 2012, der europäischen Leitmesse der Halbleiterindustrie, feierten wir den Produktstart unserer AUTOAIM Mikroskopie-Software.

Da wir schon vor Messebeginn die ersten Kundensysteme mit dieser neuen Software ausstatten konnten, erhielten wir bereits vor Ort in Dresden positives Feedback. Die Kunden möchten die speziellen Features wie Wafermap-Support, automatisches Messen und vor allem den cleveren Schutz vor Crashs zwischen Objektiv und Probe nicht mehr missen.

Wenn Sie Interesse an besserer Mikroskopie-Software für Ihre bestehenden Systeme haben, dann informieren Sie sich in einem persönlichen Gespräch unter der Nummer 03641 544495. Wir führen die Software gern vor Ort bei Ihnen vor.